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本司儀器的設(shè)定方法

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本司儀器的設(shè)定方法

點擊:329 日期:2019/3/7 16:17:25
1、測量介質(zhì)密度的設(shè)定     

當測量特殊性產(chǎn)品,如多孔性產(chǎn)品或者粉末,可以使用其它介質(zhì)當測量溶液,則需修改介質(zhì)的密度,使測量結(jié)果能加以補償。方法如下:

a)零點狀態(tài)下,長按【A】鍵3秒鐘以上,顯示【c  25】后放手,再按【B】鍵一次進入R1測量介 

質(zhì)密度的設(shè)定。

b)循環(huán)按【A】鍵進行數(shù)字修改,按【ZERO】鍵左右移位。

c)設(shè)定好后,按【ENTER】鍵一次保存設(shè)定數(shù)據(jù)并返回至零點狀態(tài)下;按【B】鍵一次進入下一個

設(shè)定模式。


2、防水處理介質(zhì)密度的設(shè)定 

當測量特殊性產(chǎn)品,除了采用更換測量介質(zhì)外,還可以使用飽和法或者表面覆蓋法進行測量,但必須設(shè)定飽和介質(zhì)與表面覆蓋介質(zhì)的密度,用以計算防水處理后所產(chǎn)生的體積。當非常特殊的樣品時,也可以與更換測量介質(zhì)法同時使用,設(shè)定如下:

a)零點狀態(tài)下,長按【A】鍵3秒鐘以上,顯示【c  25】后放手,按【B】鍵二次選擇至R2防水處理介質(zhì)密度的設(shè)定。

b)循環(huán)按【A】鍵進行數(shù)字修改,按【ZERO】鍵左右移位。

c)設(shè)定好后,按【ENTER】鍵一次保存返回至零點狀態(tài)下;按【B】鍵一次進入下一個設(shè)定模式。


3、上、下限警示的設(shè)定

通過HO上限、LO下限的設(shè)定,即可自動判定待測物合格與否,并提示報警,步驟如下:

a)零點狀態(tài)下,長按【A】鍵3秒鐘以上,顯示【c  25】后放手, 在不同的測量模式下,需循環(huán)按【B】鍵選擇至LO~HI。

b)循環(huán)按【A】鍵進行數(shù)字修改,按【ZERO】鍵左右移位。

c)設(shè)定好后,按【ENTER】鍵一次保存設(shè)定數(shù)據(jù)并返回至零點狀態(tài)下;按【B】鍵一次進入下一個設(shè)定模式。

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